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250μm 微区分布成像分析功能! 

X R F -1500j1700 系列 X射线荧光光谱仪在世界上首先开发出微区分析·分布分析功能，并采用了4KW薄窗X射线管，扩大了X射线荧光分析的应用领域，作为具有革命性的仪器而得到了很高评价，业己销售 200 余台。 

XRF-1800 对仪器硬件与软件的许多细节都进行了改进，进一步提高了仪器的可靠性与可操作性，新增了250μm 微区分布成像分析功能，从而达到更高水平的程度。

扫描型X射线荧光光谱仪XRF-1800特点

1、用波长色散型 XRF 在世界上首先实现了 250μm微区分布分析 ( 如选购 CCD 摄像头可以直接观察样品) 

2、利用高次线解析可以进行准确的定性·定量分析 

3、配置有高分子薄膜的膜厚测定与无机成分分析的背景基本参数法 (FP)

4、既美观又节省空间的整机设计(数据处理系统、X  射线管冷却水装置、真空泵、X  射线管高压电源等全一体化) 

5、配置高可靠性、长寿命的 4KW 薄窗 X 射线管

6、快速、安全、性能可靠而实用的运送样品系统

7、XRF-1800具有集成岛津公司实践知识于一体的模块功能和匹配功能

8、具有多功能而易操作的软件

应用领域

1、电子·磁性材料

      半导体、光磁盘、磁性材料、电池、线路板、电容器等

 2、化学工业

     无机·有机制品、化学纤维、催化剂、涂料、颜料、药品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂等

 3、石油·煤炭

      石油、重油、润滑油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等

4、陶瓷·水泥

     水泥、水泥原料、陶瓷、熟料、石灰石、高岭土、粘土、玻璃、耐火材料、岩石等

5、钢铁

     生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、炉渣、铁矿石、铁合金、特种钢、表面处理钢板、电镀液、铸造砂等

6、有色金属

     铜合金、铝合金、铅合金、钵合金、镇合金、镶合金、铁合金、贵金属等

7、环境

     工厂废水、海水、河水、大气粉尘、工业废物等

8、农业

     食品 土壤、肥料、植物、食品等

  9、纸张

      纸浆 涂布纸、滑石、调色剂、墨水等

 10、地质·矿产

       岩矿、土壤、铁矿石、有色金属矿石、铝矶土、稀土矿石等

250μm   微区分布成像分析功能

·利用 CCD 摄像头可以直接观察样品(选购件)

·用500μm 光阑和和数字处理数据的显示，可以实现 250μm 微区图像显示。 与 CCD 摄像头相组合，可得到更加确定的分析结果。

微区分析

1994年，本公司在传统的10-30mm大面积测量、分析平均含量的性能(功能)优异的光谱仪中，添加了微区分析功能，并推出了具有微区分析功能的XRF-1700光谱仪。

XRF-1800是XRF-1700升级产品，在性能和功能方面均有改进，其最小分析直径可达500μm(显示直径 250μm)。

微区分析系统结构

独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光阑，利用 r 方向滑动与样品旋转控制的。转动，可以在30mm直径内的任意位置进行分析。

分析位置指定的方法

根据微区分析刻度盘(标准附件)与CRT画面，指定任意位置。 另外还可以根据CCD摄像头(选购件)的样品画面指定分析位置。

指定位置画面

用鼠标指定30mm圆内的点或者用数值输入其位置

微区分析刻度盘

对准样品容器，确定测定位置

应用实例

元素分布成像分析

用250μm 束斑显示，便于数据对比。应用于不均匀样品的含量分布和强度分布分析。

样品是稀土元素矿物(Bastnasite)。 红色圆圈为30mm直径的分布分析范围。

La 与 Ce 具有相同的分布，而 Ca 与 Ba 分别具有不同的分布。 因此，判断此样品至少含有 3 种矿物。

利用高次语线的定性·定量分析

·可以同时测定常规的  1  次谱线与高次谱线的谱峰。

·高次谱线的判定更加准确，可以提高定性·定量分析的准确度与可靠性。

·用脱机数据处理，1 次谱线与高次谱线可以交替显示，也可以两者重迭显示。 这样高次谱线的影响就一目了然。

测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数 (FP) 法

·高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息。

·利用康普顿散射 / 瑞利散射的强度比计算出荧光 X 射线分析不能得到的氢(H)元素的信息。

传统的基本参数(FP)法只计算     X     射线荧光(净峰) 的强度，而背景基本参数(F P)法增加了散射  X  射 线(背景)强度的计算。 对于高分子薄膜样品，计算散射 X 射线之一的 R h K α 康普顿散射的 X 射线强度就可以测定高分子薄 膜的厚度，这是因为康普顿散射的强度与样品的密 度成反比，且与薄膜的厚度成正比。

基本性能

· LAB CENTER 是根据理论计算新设计的光学系统，所以大幅度提高了灵敏度。另外，晶体交换与测角仪等多个硬 件同时控制，达到快速运行。这种基本性能，充分满足各行各业用户的要求。

4KW 薄窗 X 射线管

配置有平均寿命5年以上的高可靠性的X射线管。 与传统3KW的X射线管比较，轻元素的分析灵敏度提高 2 倍以上。

·岛津开发的 4KW 薄窗 X 射线管与大电流 140mA 的 X 射线发生 器作为标准配置，全元素的分析灵敏度明显提高。 

·特别是Be等超轻元素的分析灵敏度有飞跃的提高(约 2 倍)。 

·使用 RhjCr 等双靶 X 射线管(选购件)，可以提高 Ti、Cl、Rh、 Ag 等元素分析的灵敏度。

5 位一次 X 射线滤光片交换机构

5 种一次X射线滤光片作为标准配置，降低由X射线管产生的特征X射线、连续X射线、杂散线的散射线，可进行微量元素分析。

预抽真空·放气速度的高速 j 低速切换

·有利于容易破损的粉末样品与薄膜分析

真空度稳定机构

·为了改善轻元素的重现性，配置有真空度稳定机构。此机构 本公司在世界上首先在多道 X 射线荧光光谱分析装置上开发， 并投入实际应用的。

可以进行He·N2 置换(选购件)

·用于液体样品分析。 

·新开发的置换机构，可能快速准确地气氛置换。

新设计的光学系统

· X 射线管与样品的距离，以及样品与视野限制光阑及次级准 直器的距离都缩短，因此全元素的分析灵敏度提高约 2 倍(本 公司自比)。

高精度的温度调节机构

·利用高精度的温度调节机构，装置内温度控制在 35:t0.1C

原理·结构

当 X 射线管发射的 X 射线照射样品时，从样品中所含元素的 原子就产生新的 X 射线发射到样品表面外，这种具有元素特 征波长的 X 射线称为荧光 X 线。因此，通过检测这种 X 射线的波长可以进行定性分析。另外，因为荧光 X 射线的强度与 元素的浓度成正比，检测每个元素的荧光 X 射线特征强度可 以进行定量分析。

·在分析高含量时，计数率超过计数线性范围，将灵敏度衰减 约 1/10。 

可靠实用的样品运送系统 

一一永无装卸故障的，岛津独自研制的摇营机械手方式 一 

·粉末样品万一破损时，只在预抽真空室中酒落，而不会污染处于真空中的分析室 

·只要把预抽真空室返回到放置样品的一侧，即使仪器处于通电状态，也能清扫预抽真空室。 

长期稳定性好，充分发挥 X 射线管 

性能的检测器和计数电路系统

·配置有高精度气体密度稳定器，检测器的气体流量很小，检测器和计数电路系统的长期稳定性好。

·自动灵敏度控制(ASC)功能，在微量元素到主成分分析中，可使 4KW 薄窗 X 射线管充分发挥其性能。

用高速扫描(300 /min)功能进行简单·快速的定性定量分析

·用简单的操作，可以在短时间内得到分析结果。

样品分析过程

·用简单的操作，可以进行全元素(Be-U)的定性分析和利用 无标样 FP 法的定量分析。

* 分析 Be - N 时，要使用选购的分光晶体

简单分析 用鼠标指定样品旋转台的样品位置进行分析。 进行全元素的定性和 FP 法的定量分析。

根据化合物形态，样品形态及分析时间，选择分析条件。

高速定性·定量分析

·利用高速定性分析功能(300。jmin)只需 2.5min 就可以完成 Be-U 的定性分析，以及 FP 法的定量分析。